News
Profile
Members
Research
Grants
Papers
Patents
Books
Talks
Services
Awards
Courses
Contact
|
Technical Articles
- 温暁青, "低消費電力LSIのための低消費電力テスト技術," 研究最前線, 情報・システムソサイエティ誌, Vol. 16, No. 2, pp. 10-11, 2011年8月1日.
- 温暁青, "LSI回路の低キャプチャ電力テスト生成技術," 授賞寄稿, 情報・システムソサイエティ誌, Vol. 14, No. 2, p. 16, 2009年8月1日.
- 温暁青，梶原誠司, "ロジックBIST技術の現状と課題," 日本信頼性学会誌, Vol. 26, No. 4, pp. 252-262, 2004年6月.
- 梶原誠司，温暁青, "論理LSIに対するテスト技術の現状と課題," Journal of SEAJ, No. 87, pp. 38-41, 2003年11月.
- 温暁青，玉本英夫，樹下行三, "IDDQ計測による故障検出と故障診断," 信頼性学会誌, Vol. 19, No. 4, pp. 67-75, 1997年6月.
- 温暁青, "集積回路のテスト," 秋田大学鉱山学部北光会会誌, No. 102, pp. 27-29, 1995年8月.
|
