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Japan Patent Applications

01 特開2012-230037 テスト装置、テスト方法、プログラム及び記録媒体

02 再公表10-047219 生成装置、判別方法、生成方法及びプログラム

03 再公表10-021233 生成装置、生成方法及びプログラム

04 特開2011-149956 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体

05 再公表09-051193 論理値決定方法及び論理値決定プログラム

06 再公表09-051191 ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム

07 特開2010-217188 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム

08 再公表08-133052 半導体集積回路の２パターンテストにおける誤テスト回避型テスト入力生成方法

09 再公表08-001818 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

10 再公表07-013306 半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法及びテストベクトル生成プログラム

11 再公表06-106626 半導体論理回路装置のテスト方法及びテストプログラム

12 特開2008-116374 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体

13 特開2008-082867 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

14 特開2007-263724 生成装置、生成方法、生成方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

15 特開2007-155339 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

16 特開2006-118903 半導体論理回路装置の故障診断方法、装置、及び半導体論理回路装置の故障診断プログラムを記憶した記憶媒体