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Japan Issued Patents

01.　呉孟帆、黄俊郎、宮瀬紘平、温暁青、"生成装置、判別方法、生成方法及びプログラム"、特許5481754、2014年2月26日.

02.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体"、特許5333956、2013年8月9日.

03.　宮瀬紘平、温暁青、梶原誠司、大和勇太、"生成装置、生成方法及びプログラム"、特許5311351、2013年7月12日

04.　宮瀬紘平、温暁青、梶原誠司、"ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム"、特許5221554、2013年3月15日.

05.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、"論理値決定方法及び論理値決定プログラム"、特許5141989、2012年11月30日.

06.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、"半導体集積回路の２パターンテストにおける誤テスト回避型テスト入力生成方法"、特許5141988、2012年11月30日.

07,　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"生成装置、生成方法、生成方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体"、特許5066684、2012年8月24日.

08.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"コンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体"、特許5035663、2012年7月13日.

09.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体"、特許5017604、2012年6月22日.

10.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体"、特許5017603、2012年6月22日.

11.　温暁青、梶原誠司、"半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法及びテストベクトル生成プログラム"、特許4752030、2012年6月3日.

12.　温暁青、梶原誠司、"半導体論理回路装置のテスト方法及びテストプログラム"、特許4752029、2012年6月3日.

13.　温暁青、梶原誠司、"半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム"、特許4919237、2012年2月10日.

14.　温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体"、特許4482622、2010年4月2日.