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R.O.C. Patents
01 呉孟帆、黄俊郎、温暁青、宮瀬紘平、"測試図案最佳化的方法"、中華民国専利発明第 Ｉ403746 号、2013年8月1日.
02 温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"診断装置、診断方法、可執行該診断方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体"、中華民国専利発明第 Ｉ369503
号、2012年8月1日.
03 温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"変換装置、変換方法、可執行変換方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体"、中華民国専利発明第 Ｉ368042
号、2012年7月11日.
04 温暁青、梶原誠司、宮瀬紘平、皆本義弘、伊達博、"産生装置、産生方法、可執行産生方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体"、中華民国専利発明第 Ｉ368041 号、2012年7月11日.
05 温暁青、梶原誠司、 "半導体（Logic）電路装置之測試向量産生方法及び測試向量産生程式産品"、中華民国専利発明第 Ｉ311650
号、2009年7月1日.
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