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 発想力が育つ！実現力が育つ！表現力が育つ！国際力が育つ！ 〜 あなたの夢の実現を全力でサポートします 〜 研究室紹介資料 研究内容  温研究室では、高度情報化社会と次世代産業に欠かせない携帯型電子機器、自動運転車、IoT/AI/VR機器、ウェアラブル医療機器などの頭脳部にあたるLSI（大規模集積回路）の高品質化と高信頼化を実現するために不可欠なLSIテスト技術の研究開発を行っています。LSIテストとは、製造されたLSI回路に機能障害の原因となる製造欠陥が潜んでいないかを検査する技術です。最先端のLSIは、数千万個の論理素子（ゲートやフリップフロップ）から構成され、数GHzという高い周波数で動作します。このような複雑なLSI回路に対しても、数十秒以内に高精度なテストを完了させる必要があり、将来にわたって高度なLSIテスト技術が求められています。温研究室は、この分野において世界トップレベルの研究実績を有しており、特に温教授は、スマホをはじめとする様々な携帯型電子機器の中枢となる低電力LSIのテストに欠かせないLCP (Low Capture Power) 技術の発明者として知られており、国内外で高く評価されています。温研究室では、次世代の革新的なLSIテスト技術の創出を目指してに向けて以下のテーマで研究開発を進めています。
LSIテストに精通した技術者や研究者が世界的に不足しており、そのような状況の中で、車載電子デバイス、ロボット用電子デバイス、スマホ用イメージセンサー、航空宇宙用デバイス、医療機器などの大手企業から、温研究室の学生に対して多くのの直接求人が寄せられています。温研究室の大学院修了者は、ソニーLSIデザイン、ルネサステクノロジ、デンソーなどの一流企業に多く就職しており、大学や研究機関で研究者として活躍している人もいます。
温研究室では、「LSIテストの実問題を革新的なアプローチで解決する実用的な技術を世界に先駆けて開発する」ことをモットーとして研究開発を行っています。具体的には、まず企業が現在直面している、あるいは将来必ず直面する重要な技術課題を抽出し、それらの問題を明確に定式化します。その際、特に他ではまだ研究されていない新しい課題を発見することを重視しています。次に、定式化された問題を効率的に解決するためのアルゴリズムを考案します。この段階では、従来にない革新的なアプローチを生み出すことに重点を置きます。その後、CやJavaなどのプログラミング言語を用いてアルゴリズムを実装し、計算機シミュレーションや試作テストチップによる評価実験を行います。得られた研究成果は特許出願を行った後、国内外の学術誌や国際会議で発表しています。これまで発表した研究成果の中で、最優秀論文賞や最優秀学生論文賞を受賞したもの、国際会議の記念論文集に選ばれたものなどがあり、新聞の一面トップ記事として大きく報道されたこともあります。また、第51回ジュネーブ国際発明展で金賞も受賞しています。
温研究室では、高度情報化社会と次世代産業に不可欠で将来性の高いLSI分野において、充実した技術者人生を送りたい学生を求めています。特に、次のような意欲ある学生を歓迎します。
温研究室は、宮瀬研究室およびホルスト研究室とともに国内最大規模のLSIテスト研究グループを構成しており、教授３名（うち客員教授１名(米国)）と准教授１名による強力な集団指導体制のもと、学生の研究活動を全力でサポートしています。なお、大学院レベルでは、本研究グループの全教員は電子情報通信分野に所属しています。  |
